Πανεπιστήμιο Κρήτης
Τμήμα Επιστήμης και Τεχνολογίας Υλικών
Ελληνικά
English
twitter icon facebook icon

ΕΤΥ-446
Ηλεκτρονική Μικροσκοπία

Διδάσκοντες

Γεράσιμος Αρματάς
email
garmatas@materials.uoc.gr
τηλέφωνο
2810545004
γραφείο
Κτήριο Χημικού, Γ.212
Παντελής Τρικαλίτης
email
ptrikal@uoc.gr
τηλέφωνο
2810545052
γραφείο
Κτήριο Χημικού, Γ.306

Διεξαγωγή μαθήματος

Ώρες Διδασκαλίας
Παρασκευή 12:00-15:00, αίθ. Β2 Χημικού.

Προαπαιτούμενα μαθήματα

–

Ανακοινώσεις

Μαθησιακά αποτελέσματα

Το μάθημα αυτό περιλαμβάνει εισαγωγή στις βασικές αρχές ηλεκτρονικής μικροσκοπίας με έμφαση στην ηλεκτρονική μικροσκοπία σάρωσης (SEM) και στην ηλεκτρονική μικροσκοπία διέλευσης (ΤΕΜ). Περιγράφεται η αρχή λειτουργίας της ηλεκτρονικής μικροσκοπίας και των ηλεκτρομαγνητικών φακών.

Στόχοι του μαθήματος είναι οι εξής:

Διδασκόμενη ύλη

  1. Βασικοί τύποι ηλεκτρονικών μικροσκοπίων: σάρωσης (SEM) και διέλευσης (TEM)-συμβατικής και υψηλής διακριτικής ικανότητας.
  2. Αλληλεπίδραση ηλεκτρονίων και υλικών.
  3. Κυματική θεωρία ηλεκτρονίων.
  4. Περίθλαση ηλεκτρονίων: αντίστροφο πλέγμα, περίθλαση ηλεκτρονίων επιλεγμένης-περιοχής, περίθλαση συγκλίνουσας δέσμης, ανάλυση εικόνων.
  5. Μηχανισμοί φωτεινής αντίθεσης: αντίθεση απορρόφησης, αντίθεση περίθλασης, και αντίθεση φάσης. Σχηματισμός και ανάλυση εικόνων δομικών ατελειών.
  6. Αναλυτική ηλεκτρονική μικροσκοπία: στοιχειομετρική ανάλυση με ακτίνες-Χ.
  7. Βασικές αρχές λειτουργίας ηλεκτρονικού μικροσκοπίου και προετοιμασία δειγμάτων ηλεκτρονικής μικροσκοπίας σάρωσης και διέλευσης.

Σημειώσεις

Δείτε τη σελίδα.

Αξιολόγηση φοιτητών

Η αξιολόγηση των φοιτητών γίνεται με τελική γραπτή εξέταση που περιλαμβάνει:

Βιβλιογραφία

  1. Σημειώσεις (PowerPoint) του μαθήματος.
  2. Marc De Graef, Introduction to Conventional Transmission Electron Microscopy, Cambridge University Press (2003).
  3. Stanley L. Flegler, John W. Heckman, Karen L. Klomparens, Scanning and Transmission Electron Microscopy: An Introduction, Oxford University Press (1995).

Συναφή επιστημονικά περιοδικά